新型LCoS芯片设计测试及应用研究

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随着科学技术与工业技术的发展,人们在光电子显示领域取得极大的发展,越来越多的显示产品研究成功,广泛地应用到生活中。伴随着显示领域及显示场合的多元化,人们已经不再仅仅满足于简单的投影显示,对显示性能的要求也越来越高,基于投影显示产品的芯片设计测试也需要进一步发展,以满足人们的需求为主。本论文基于国家863项目:高性能LCoS微型投影显示技术及样机研究,首先研究投影设备的核心元件:LCoS芯片。LCoS芯片融合了液晶技术和集成电路技术的独特优点,采用特殊的工艺手段,在硅基板和玻璃基板之间注入液晶封装而成。LCoS芯片外围电路集成到硅基板上,该芯片具有独特的功能结构。本论文针对LCoS芯片的特殊结构,基于琼斯矩阵和晶体光学的空间参量法,利用MATLAB模拟出反射式LCoS芯片光路示意图,得到液晶盒的盒厚与扭曲角之间的关系,从而确定出最佳盒厚和扭曲角,为工业生产提供一定的理论指导。基于铁电液晶的LCoS芯片应用研究,采用与TN或STN液晶相同的空间参量法进行理论分析,由于铁电液晶材料具有很高的响应速度,因此硅基铁电液晶芯片具有高速响应和双稳态等优点,在显示领域及光纤通讯领域具有巨大应用潜力;基于LCoS芯片的空间光调制器,采用独特的驱动电路,实现了光栅的功能,对入射光的振幅及相位进行调制。本论文针对课题组完成的液晶盒、LCoS芯片及投影仪进行测试。液晶盒的测试集中在反射率、电光曲线和响应时间三个方面,采用投影仪工作原理的测试平台进行;LCoS芯片测试集中在视频驱动电路方面,采用FPGA作为中央控制芯片对LCoS芯片进行测试与优化;投影仪的测试集中在投影显示画面的亮度、对比度、分辨率、均匀度和灯泡寿命等,根据已有的《电子投影测量标准》,结合美国ANSI九点测试标准,对本课题下的高性能LCoS微型投影仪进行测试,并根据测试结果对LCoS芯片不断优化。同时参考大量文献提出一种新型的测试方法:五点测试法,该方法得到的结果在一定程度上接近ANSI值。
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