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在300MHz以下，直接电流注入技术是对导弹进行EMC测试的简单、经济、有效的方法，可代替费用昂贵的自由场照射测试法<[1]>。相对于开阔场测试法，直接电流注入测试法的优越性在于：在低频段，在低输入功率的情况下，测试装置内可产生很高的场强(在200MHz频率下，输入5w功率将产生大于200V/m的场强)，不必像开阔场测量要求有很大的功率源。
为评价直接电流注入与自由场照射之间的等价性，需用电流探头测量受试导体表面在直接电流注入装置内感应产生的表面电流。由于该电流探头工作于强电磁场环境中，信号处理和传输易受干扰，而且普通的同轴电缆自身会对测试装备内原电磁场分布产生严重的扰乱。与电缆数据传输相比，光纤传输几乎不受电磁场干扰，而且光纤不会扰乱被测空间内的原有场分布。
本文设计制作了基于光/电转换技术的表面电流探头并进行校准和测试，其工作频率为0.3～300MHz。在强电磁场环境下，该系统有抗干扰能力强、测试精度高的特点。
本文简要介绍了电流注入法的基本原理、历史发展及电流探头和光纤传输的应用现状，着重论述了表面电流探头的基本原理、设计制造、特性阻抗校准以及它在电磁兼容测试中的应用(高场强的测试)，并简要分析置入探头对原有场分布的影响。