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有机电致发光器件(OLED)是显示领域内的一个研究热点，在研究过程中需要用到相应的测量系统。而对于OLED测试系统的研究开发都是借鉴发光二极管的测试系统，还不是很成熟。本文设计开发了新型有机电致发光：I/V/B自动测量系统和表面功函数测量装置，对OLED器件优化提供了有力支持。
本文首先回顾了OLED器件的发展历程、基本原理。对OLED器件各种参数的意义及计算方法进行了详细的描述。为介绍测试系统设计开发奠定了基础。阐述了测试在科学研究中的重要作用，并根据数据采集技术设计开发了。I/V/B自动测量系统。该系统主要是利用数据采集卡的控制来完成程控电压输出和基本参数采集，与数据采集卡相配套的外围电路包括：电流电压的放大电路、电流测量电路、电压测量电路、亮度采集电路。自动测量系统的控制是通过应用程序来完成的，应用程序开发是运用NI(National Instrument)公司的图形化编程平台LabVIEW开发环境。通过LabVIEW提供的丰富函数，我们实现了速度可控的扫描电压、三组基本数据采集、数据计算处理、数据保存功能。并设计了相应的人机界面来进行测量所需要参数设计、测试结果的显示、特性曲线绘制等功能。本文还制备了基本OLED器件并运用自动测试系统进行测量。将测量结果与现行测量系统的测试结果进行了比较，通过分析可以得知测量结果真实可信。
利用接触势差法自行设计开发了一种新型的表面功函数测试装置。基本原理是参考电极与样品之间形成电容，计算流过参考电极与样品之间的电流，通过确定电流的零点来获得功函数。此测量仪器由函数发生、功率放大，振荡器等多个功能模块组成。能在空气环境中快速测量半导体、金属、金属氧化物薄膜的表面功函数。我们运用此装置成功的对有机电致发光的阳极氧化铟锡(ITO)薄膜、p型硅片的功函数进行了测量，得到了样品经过UV-zone处理前后功函数随时间变化的曲线。为器件的优化提供了依据。