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随着经济全球化趋势的加强,市场需求呈现多样化,企业间的竞争也日趋激烈。作为半导体产业中生产系统的典范,可重入生产系统长期以来一直是学术界与国际制造工业界中研究的热点。可重入生产系统的多重入特性、加工路线的复杂性、规模较大等特点使得可重入生产系统的研究比传统生产系统的研究更困难。目前,学者们主要从系统建模、调度策略和投料控制、系统的瓶颈分析、系统的性能分析等几个方面对可重入生产系统进行研究。以往的研究虽然取得了一些成果,但是研究成果比较离散,尚未形成良好的体系结构,并且可重入生产系统的全面研究对我国半导体产业的发展具有重要的理论意义和经济价值。因此,本文集中于开环可重入生产系统的参数及系统特性的研究,以半导体产业中经典的实际可重入生产系统——某类型的液晶产品生产系统为样例,采用基于AnyLogic软件的仿真建模技术,并结合数据分析和数据挖掘方法从开环可重入生产系统的仿真建模、自身参数、系统的性能分析、瓶颈辨识、系统评价和优化调度策略等几个方面进行研究。首先,结合开环可重入生产系统的特性,基于AnyLogic软件的离散事件仿真建模思想,本文采用基于生产路线图的AnyLogic建模方法,对开环可重入生产系统建模仿真的问题求解,并且在对开环可重入生产系统全面分析的基础上,提出了可以综合地描述开环可重入生产系统自身特性的一个参数：工作站综合时间,并且给出了工作站综合时间的定义以及计算公式,既简化了可重入生产系统研究的复杂,又降低了可重入生产系统研究的困难度。再者,本文通过分析工作站综合时间、调度策略、固定投料间隔的投料策略等对系统性能的影响,基于工作站综合时间提出了开环单件可重入生产系统瓶颈辨识的新方法,求解出了系统中工作站的利用率及系统产能上界的预估方法,并基于工作站综合时间提出了开环可重入生产系统的评价策略与产能优化方法。最后,在工作站综合时间的基础上,本文提出了一个优化调度策略：下道工作站综合时间最大的优先调度策略,并采用AnyLogic仿真建模技术,进而验证了该调度策略适用于开环单件可重入生产系统,同时对提高系统的产出量、降低系统中的在制品数、减小系统的平均加工周期和平均等待时间的综合效果较好,改善了开环可重入生产系统的以上几项性能指标。