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在偏振成像探测技术中,分焦平面偏振成像探测技术因其结构紧凑、实时性好等优点,成为该方案及其应用的发展趋势。本文聚焦传统分焦平面偏振成像探测技术加工难度大、成像参数不全面等问题,利用双折射晶体编码手段,提出了基于双折射晶体编码的分焦平面偏振成像探测方案,通过理论仿真对该方案进行了系统参数优化、误差分析等研究,并通过实验的手段对其中的必要组件——双折射晶体薄片进行了快轴和厚度均匀性的定标研究。首先,在偏振测量理论的基础上,对提出的基于双折射晶体编码的分焦平面偏振成像探测方案进行详细介绍,对该方案进行了系