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数字集成电路功能的不断增加和规模的日益扩大,使集成电路的测试面临着巨大压力,不仅测试生成越来越困难,而且测试应用时间也越来越长,导致测试费用不断提高。而集成电路的测试问题关系到集成电路及相关产品的设计、生产、制造及应用开发等各个领域,因此,如何找到高效率、低成本、满足当前测试需求的数字集成电路测试方法越来越受到人们的广泛关注。本文以数字集成电路测试为背景,针对电路测试所面临的测试生成时间长、故障覆盖率低以及测试应用时间长的问题,分别对数字集成电路测试生成方法、测试质量提高方法和静态测试压缩方法进行了深入研究。首先,对数字集成电路测试生成过程的关键技术进行了详细分析。建立被测电路的电路模型和故障模型并对被测电路目标故障集进行故障等价归并,精简故障集合,减少测试向量生成过程的计算量；根据电路可测性分析和计算方法,对被测电路进行可测性分析和计算,将计算结果注入电路链表结构,为测试向量生成过程选择最优路径；用并行故障模拟器选出最优的测试向量集合,保证故障覆盖率,提高测试生成效率。其次,针对数字集成电路测试生成时间长和故障覆盖率低的问题,将性能较好的蚂蚁算法和遗传算法应用于基于模拟的集成电路测试生成过程,缩短测试生成时间；针对基于模拟的测试生成方法所面临的缺乏激活难测故障和传播相应故障响应所必需信息的问题,对电路引入扫描设计测试结构,提出了一种将基于模拟测试生成方法与扫描设计测试结构相结合的有限扫描测试生成方法,在基于模拟的测试生成方法基础上,通过将扫描电路的扫描输入端、扫描选择端和扫描输出端视为电路通用输入输出端,穿透扫描时钟周期和测试时钟周期之间的差异,提高故障覆盖率。国际基准电路实验及比对结果表明,提出方法有效减少了测试生成时间,提高了故障覆盖率。再次,为了提高有限扫描测试序列对非模型化故障的故障覆盖率和故障隔离率,本文在详细分析现有测试质量评价方法基础上,对其在故障隔离评价方面的不足进行补充和完善。将完善后的测试质量评价方法扩展到有限扫描测试序列质量评价方法,并根据有限扫描测试序列自身特点,提出了两种提高测试质量的方法,通过随机确定测试序列含有的不确定值和修改测试序列内部扫描选择子序列数值的方法提高测试序列质量,基准电路实验结果表明,提出方法有效提高了测试序列对非模型化故障的故障覆盖率和故障隔离率。最后,针对扫描设计测试结构生成的测试序列长,导致测试应用时间多的问题,对有限扫描测试序列进行了基于向量删除的静态测试压缩,去掉测试序列中的冗余向量；根据有限扫描测试序列的扫描特性,提出一种与基于向量删除静态测试压缩方法相结合的有限扫描静态测试压缩方法,在基于向量删除的静态测试压缩基础上,用较短的有限扫描操作代替较长的全扫描操作或有限扫描操作,合并候选测试向量,引入启发式方法降低计算复杂度,在保证不降低故障覆盖率的前提下,压缩测试序列长度,减少测试应用时间和测试数据存储容量。基准电路实验结果表明,提出方法在保证故障覆盖率不变的前提下,有效减少了有限扫描测试序列的测试应用时间和测试数据存储容量。