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涂层的红外辐射特性研究实质就是涂层红外光谱发射率的研究,红外光谱发射率是红外辐射特性中最重要的一个参数。发射率的研究不仅有着明显的科学意义,而且还有着十分重要的工程应用价值,在工业生产、国防军事、红外隐身、航空航天以及温度测量技术等多个领域中应用广泛。红外光谱发射率测量属于精密测量,测量装置的精密度关乎于测量结果的可信度。本论文基于傅里叶变换红外光谱法(FTIR)评价了红外光谱发射率测量装置中黑体辐射源的热辐射特性,并通过分段线性标定法在温度范围373~973K、波长范围2~14μm对FTIR光谱仪进行了标定。评价结果表明,黑体辐射源的红外光谱发射率接近1,可用作光谱发射率测量装置中的标准辐射源。本论文介绍了高发射涂层Pyromark1200,该涂层在589~922K温度范围可稳定工作,是我国变温黑体辐射源溯源系统中热管内壁的涂层,其红外光谱发射率的精确表征对我国辐射温度计量有着重要的意义。但其红外光谱发射率数据匮乏,且红外辐射特性受喷涂工艺、微观结构、热过程的影响鲜见报道。本论文对Pyromark1200进行了如下研究:(1)比较了不同喷涂工艺、漆膜厚度、微观形貌对Pyromark1200的红外辐射特性影响,结果表明,100μm为临界厚度,低于该厚度,红外光谱发射率会存在明显的衰减;(2)测量了在573~873K温区、光谱覆盖3~14μm、大气条件下该涂层的法向红外光谱发射率,测量结果表明,Pyromark1200在3~14μm的全红外光谱发射率大于0.93;(3)研究了热过程对涂层红外辐射特性的影响,在673K持续72小时的老化实验结果表明,其红外光谱发射率变化不大于0.01,具有良好的稳定性,适合喷涂在长期工作于高温环境中且需要高发射率的材料表面,对提高热辐射有着显著的效果。