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测试是芯片设计制造流程中的关键技术之一。随着芯片制造技术,系统集成能力的不断提高。尤其伴随着系统级芯片(System-on-Chip,SoC)的发展,测试成本在总成本中所占的比重越来越高,甚至超过了其制造成本。而与此同时,测试所耗费的时间会直接影响到芯片的上市时间,从而影响到芯片产业的利润率。因此,我们需要对对测试技术进行优化,提高测试质量。测试优化过程中所面临的两个主要的问题分别是测试数据量过大问题和测试过程中产生功耗过高问题。对于前者,我们可以通过合理地对测试矢量集进行测试压缩解决。而后者则要求我们降低测试功耗.测试功耗过高会影响测试质量.随着时钟频率的提高和高速测试的大规模采用,测试功耗的影响已日趋严重,已成为需要优先解决的测试问题之一。 本文针对芯片测试矢量体积过大,测试功耗较高这两大问题提出了两种测试解决方案加以解决。第一种解决方案是基于多层数据拷贝压缩结构的低功耗测试压缩技术。该解决方案以多层数据拷贝压缩结构为基础,利用测试矢量中存在的无关位,设计了具有针对性的无关位填充算法----平衡填充算法,使得最终生成的测试矢量集合能够兼顾低功耗和高测试压缩率的特点。同时,该测试方案还被应用于实践。通过将提出的算法融合在测试矢量生成的过程之中,整个解决方案方高效生成目标矢量,直接运用于实际测试工作中去,实用性强。第二种解决方案是一种创新的多时间帧扫描测试方法。该测试方法利用现有的全扫描电路结构,通过控制时钟控制电路的工作状态。使用该测试方法,测试人员仅需输入少数几组种子矢量,就可利用被测电路的逻辑部分生成更多的“伪测试矢量”用于测试。整个测试方法简洁实用,能大大降低测试所需测试矢量集合的体积。同时,该测试方法还可以测试矢量生成过程中增加了约束,用于降低测试矢量在测试过程产生的捕捉功耗问题。该测试方法具有广泛的适用性,不仅适用于固定故障的检测,还可以对延迟故障进行测试。