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太赫兹(THz)频段有着丰富的科学和技术应用背景，本文对铌(Nb)超导隧道结(STJ)的THz直接检测和氮化铌(NbN)热电子测辐射热仪(HEB)的超外差混频检测特性进行了研究。对STJ直接检测系统，在0.3K下测得检测器1 mV处的漏电流为100 pA，直接检测的电流响应率约为1A/W。通过傅里叶变换光谱(FTS)系统测得的直接检波系统的中心频率为655 GHz，带宽约60 GHz，与设计的结果相吻合。对混频检测系统，我们制造了NbN的HEB芯片，搭建了4.2K下基于HEB的混频检测系统，测量了系统在4.2K下从0.65 THz到3.1 THz在不同防反射膜条件下的噪声温度，评估了量子噪声对混频器噪声温度的影响，得到了约为4的剩余量子噪声系数，与理论计算得到的结果一致。我们对系统的Allan方差进行了测量用来评价系统的稳定性，并得到了大于0.4s的Allan时间TA。从系统的Allan方差中我们还评估了系统的温度分辨率，得到使用0.65 THz的倍频器和耿式振荡器作本振源时最低1.1K的温度分辨率，为下一步进行THz成像的研究打下了基础。