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本文借鉴损伤力学研究材料损伤的方法，引入磁记录介质损伤的概念，探讨了磁记录介质在摩擦磨损的作用下，由于磁记录介质细观结构的缺陷引起的其电磁记录特性逐步劣化的过程。
本文首先对自行设计的环境式微/纳米摩擦/磨损实验机作了完善和补充工作，设计制作了可以对微小力高精度加载和测量的机构。然后借助原子力显微镜和微/纳米摩擦磨损试验机对磁卡、录音磁带、录像带、软磁盘、硬盘等五种磁记录介质的表面形貌和微观摩擦磨损特性进行了实验研究，并根据纳米摩擦学理论对测试结果进行了分析讨论。最后本文以软磁盘为研究对象，利用微/纳米摩擦磨损实验机进行了一系列摩擦磨损试验，在一批软磁盘上形成各种不同程度的损伤，通过考察其电磁记录特性在实验前后的变化情况并结合微观形貌研究，找出了导致软磁盘磁记录介质记录特性变坏的临界损伤区域，引入ωw和ω d对损伤的描述和表征作了初步探讨。