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浮栅结构和铁电栅介质有机场效应存储器件研究

来源 :兰州大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：nj84219

【作 者】

：

吴承龙 

【出 处】

：

兰州大学

【发表日期】

：

2018年09期

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