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随着集成电路制造工艺复杂度的不断增高,芯片测试技术的难度和成本越来越大。为及时筛选出存在物理缺陷的芯片产品,半导体芯片制造商使用DFT (Design for Testability)技术在ATE (Automatic Test Equipment)上对芯片产品进行流片后测试。SoC芯片上高速高精度ADC/DAC混合信号模块的性能测试是芯片测试领域的一个难点,传统的测试方法往往存在成本高、速度慢、自动化程度低等问题。本课题在美满电子科技有限公司视频芯片组开展,设计了一个基于FPGA的片上ADC/DAC模块测试系统,目的是优化其芯片产品片上ADC/DAC模块的性能测试过程,降低测试成本,缩短测试时间,提高测试的自动化程度。本测试系统使用Altera FPGA定制开发板,设计了基于板上FPGA和高精度DAC/ADC的测试回路,对被测ADC/DAC模块进行测试；并在FPGA器件上设计了信号发生器、测试控制模块和性能评估模块。信号发生器采用CORDIC算法产生高精度正弦波,性能评估逻辑模块基于FFT分析法对被测模块进行动态测试,测得信纳比、信噪比、总谐波失真等动态性能参数值。FPGA上的逻辑设计遵循pipeline设计原则,对采样数据进行实时处理和频谱分析,不需要额外的缓存器来存储采样数据,相比于传统基于软件的数据处理方法,可以减少测试时间。相比于传统的使用带模拟信号通道和任意波形发生器的ATE测试方法,本基于FPGA的测试方法可以节约测试成本,提高测试自动化程度。