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随着集成电路制造工艺的不断进步以及芯片规模的不断增加，测试策略面临新的挑战，本文提出矢量压缩后复用系统总线的测试方案是一种测试结构上的全新尝试，实验表明，它有效的达到了减小测试矢量规模，加快测试速度，减小测试存储开销和测试时间的目的。
本篇论文第一章简要介绍测试的策略，包括对测试技术的叙述和测试现状的分析。针对目前测试时间和测试成本所面临的巨大挑战，提出运用压缩测试数据后复用系统总线传输的测试方案。并分析该方案的可行性。第二章比较国内外近几年所提出的测试数据压缩技术，简述ARM公司提出的AMBA系统总线协议和本文所用自动测试向量生成工具ATALANTA。在第三章中，提出基于具有最小相关度的多扫描链Multi-capture(MC)结构的压缩算法，并且通过Benchmark电路的实验得出相关算法的数据列表。第四章在讨论多输入特征寄存器原理及其数学模型之后，提出MISR在Multi-capture结构中作为响应压缩电路的运用，并对Aliasing做数学分析和实验数据的比较。第五章描述MC测试协议的具体实现，即S-TIC接口电路的设计，并且模拟MC测试的SOC调度实验过程。最后在第六章对论文工作进行总结，指出本论文的不足之处。本文以实例论证了从测试数据压缩出发到复用系统总线测试的整个设计流程的优越性。
实验结果显示，在不牺牲故障覆盖率的基础上，激励压缩算法平均优化率可以达到30％。实现了降低ATE设备存储开销和减小测试时间的目的。而经过MC响应压缩之后产生的Aliasing值符合理论计算值的范畴，多数电路的Aliasing值都降到了0。即反映了MC测试结构对电路故障覆盖率儿乎没有影响，响应压缩输出后具有很高的可观测性。同时，在MC矢量的SOC调度过程中，通过设置PLL倍频比ratio为4后实验得出，MC测试时间只有传统方法的10％。由此可见，运用该测试结构的测试方案在测试时间上的节省效率是传统方法无法比拟的。