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ATEM传输室广泛应用于电磁兼容试验、电磁场生物效应和计算机辐射泄露的研究以及场探头的校准试验中，由于ATEM传输室结构较复杂，计算ATEM传输室电气特性时所使用的方法繁琐，给ATEM传输室的研究造成了不便，所以采用一种简单的计算方法具有重要的意义。
本文采用解析和数值分析相结合的方法对ATEM传输室的特性阻抗和场分布等电气特性进行了分析。计算了几种情况下ATEM传输室的电气特性：研究了薄金属被测物和矩形金属被测物对ATEM传输室特性阻抗和场分布的影响；计算并分析了在ATEM传输室中置入非零电势金属被测物时传输室的电气特性；分析了ATEM传输室的内导体板厚度变化对ATEM传输室特性阻抗和场分布的影响。讨论了几种情况时内导体板、被测物与外导体之间的气隙场分布。
通过计算研究很好的验证了以下结论：芯板厚度的变化对特性阻抗的影响不可忽略；被测物和芯板厚度对气隙场分布的影响较大；在ATEM传输室中置入被测物会引起小室的特性阻抗下降，在设计中，可将特性阻抗的值增加1Ω-2Ω；当被测物满足“1/3准则”时，金属被测物使特性阻抗的下降值小于2 Ω，当被测物不满足“1/3准则’’时，被测物使特性阻抗急剧下降；由被测物对ATEM传输室场分布影响的计算分析表明，在EMC测试中，如果被测物中心与ATEM传输室测试区中心重合，可以保证测试的可靠性；在ATEM传输室中置入金属被测物时，当被测物上电势增加时，其上X、Y方向的场分量也增大。
本文所得结论有助于ATEM传输室的设计以及电磁兼容试验。