单片机传输系统EMP损伤函数研究

• 作 者: 翟爱斌[1]陈向跃[1]吴宏志[2]孙蓓云[1]聂鑫[1]
• 机 构: 西北核技术研究所，陕西 西安 710024
• 出 处: 第21届全国电磁兼容学术会议
• 发表日期: 2011年期

　　本次实验在电流注入环境下通过步进法和计数法实验对单片机传输系统进行了电磁脉冲(EMP)损伤函数的研究，采用了K-S检验和A-D检验对损伤阈值服从何种分布进行了检验，通过Bootstrap小子样数据处理方法获取了损伤函数。研究表明，选取发送端串口2数据线电流作为损伤判据是合理的，该单片机传输系统的损伤模式为短路，其损伤机理为电压击穿，其损伤阈值为3.41A, 50%失效概率对应的电流也为3.41A；步进法和计数法实验得到的损伤函数均服从Weibull分布，均可用于该单片机传输系统的EMP易损性分析和评估。该研究结果可为器件级或系统级EMP易损性分析利评估奠定了一定的基础。