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5. Muller Matrix ellipsometry analysis of MgZnO films grown on sapphire

Muller Matrix ellipsometry analysis of MgZnO films grown on sapphire

来源 :第十八届全国凝聚态光学性质学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：zhaodashu

【作 者】

：

Deng Xie Zhi Ren Qiu Yao Liu Dong-Sing Wuu Lingyu Wan Ting Mei Zhe Chuan Feng 

【机 构】

：

InstituteofOptoelectronicMaterialandTechnology,SouthChinaNormalUniversity,Guangzhou510631,ChinaState

【出 处】

：

第十八届全国凝聚态光学性质学术会议

【发表日期】

：

2016年8期

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