高能电子辐照对LIA束参数测量系统电子器件电性能的影响

来源 :全国信息与电子工程第四届学术年会暨四川省电子学会曙光分会第十五届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:woxxlong
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束流参数测量能够给束流调试提供可靠的依据,也可以提高闪光照相的空间分辨率。 在LIA束参数测量系统实验的基础上,给出了束参数测量系统的实验布局和特点,分析高能电子辐照对LIA中测量系统电子器件器电性能的影响和变化规律;进一步探讨电子器件电性能受高能电子辐照后的抑制措施。针对电磁空间干扰情况,主要通过采用光纤传输控制信号的措施,能很好地传输窄脉冲,信号延时抖动小,达到了高速信号的可靠传输要求,利用紧凑嵌入式方法,提高了抗电磁干扰的能力,这样可以更好的保护束参数测量电子器件。
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