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运用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法,对Cr20Ni80镍铬合金溅射靶材中的Si,Mn,P,Cr,Cu,Fe,Ti,Zn,Mg和Ce元素进行了测定。对溶样方法、谱线干扰、仪器参数等因素进行了研究,确立了优化的实验条件,结果满意,已用于新产品检测。
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定Cr20Ni80镍铬合金溅射靶材中多种元素的优化研究
【摘 要】
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运用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法,对Cr20Ni80镍铬合金溅射靶材中的Si,Mn,P,Cr,Cu,Fe,Ti,Zn,Mg和Ce元素进行了测定。对溶样方法、谱线干扰、仪器参数等因素进行了研究,确立了优化的实验条件,结果满意,已用于新产品检测。
【机 构】
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Guangdong Metallurgical Product' s Quality Surveillance And Inspection Center, Guangzhou 510640
【出 处】
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2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
【发表日期】
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2012年7期
其他文献
本文描述了采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)内标法测定含镍生铁中的高含量镍，选择钇(Y)作为内标元素，增加了方法的稳定性，并与容量法对照结果一致。
本文针对近些年来电感耦合等离子体发射光谱仪器的发展，从五个方面分别探讨了各项新技术在冶金材料分析中的应用情况。在科技能力大大发展的今天，仪器的检测能力及水平在不断提高，以满足日益严格的检测要求。
研究了用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定铌铁中钛、钽、铜、铝、磷量的分析方法.试料用硝酸、氢氟酸分解，硫酸冒烟，以酒石酸溶液浸取并络合铌、钽等元素，试料溶液定容后导入电感耦合等离子体发射光谱仪中进行测定.结果表明，该方法简便、快速、灵敏，相对标准偏差均小于5％，回收率在97.09％～102.00％之间，可用于日常分析.
为了解决硅铁中低含量铅的测定困难.研究了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定硅铁中铅谱线选择、基体干扰、样品处理对测定结果的影响.确定了368.349 nm作为铅的分析线,在此波长下,硅铁中铁的背景影响采用基体匹配办法克服.研究结果表明：以硝酸、氢氟酸溶解样品,在硝酸介质中,以368.349 nm作为铅的分析线,铅的检出限为0.4 mg/L,相对标准偏差为2.84％,回收率93％～
试验研究了以电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铝钡硅钙合金中的P、Al、Ba、Ca的方法。通过标准加入法，用HNO3、HCl、HF、HClO4处理样品，选择仪器的最佳分析参数和分析条件，实现了对铝钡硅钙合金中的P、Al、Ba、Ca的同时测定，方法简单结果满意。
本文试验了HNO3,HF在常温下溶解铌铁样品及采用基体匹配来消除共存元素的干扰；采用钇内标加入法提高了该方法的稳定性,同时考察了电感耦合等离子体光谱仪的RF功率、雾化气流量、辅助气流量等参数,选择了仪器的最佳分析参数。并利用ICP光谱仪的分析软件,选择适当的背景点来扣除背景,通过编辑分析程序,实现了自动绘制工作曲线、计算数据结果。试验表明,该方法测定铌铁中硅、铝、钛成分,方法简单、快速、准确。
钛铁是冶炼高附加值钢的重要原料之一，主要在炼钢中用作脱氧剂、除气剂和碳硫稳定剂。为了保证钢产品的质量，准确分析它的杂质元素是十分重要的。常常采用钼蓝分光光度法、亚硝酸盐滴定法、EDTA滴定法等化学方法进行测定，步骤繁琐，周期较长。本文叙述用等离子发射光谱法测定钛铁中的Al、Cu、Mn、P杂质元素，试料用盐酸、硝酸、少量的氢氟酸加热分解；由于酸度增大，溶液粘度增大导致谱线强度减弱，主要通过加定量的硫
以电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)直接同时进行硅钙合金中Al、Mg、P的测定，本方法对硅钙合金试样溶解方法、共存元素干扰情况、各元素测试分析谱线的原则等条件进行了试验。通过准确度及精密度实验证明本方法操作简便、快速，具有较高准确度和精密度。
本文研究了利用等离子发射光谱仪测定镨、钕、镝合金中La、Ce、Sm、Eu、Gd、Tb、Ho、Er、Tm、Yb、Lu和Y含量的方法。本方法通过共存元素的相互干扰实验，选择了各测定元素合适的分析谱线。在选定测定方式及基体浓度后，确定了该方法的检出限。在基体元素配分比例不同时，验证了方法的适用性。通过精密度实验、加料回收实验及不同实验室间的数据比对，证明此方法可准确测定镨钕镝中稀土杂质元素的含量。各元素
本文介绍了用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定高铌钛铝合金中的硼、硅、钨、锰的方法.进行了样品溶解试验，采用盐酸、氢氟酸和硝酸溶解样品，考察了基体和共存元素对待测元素的影响，标准曲线采用基体匹配方法消除基体钛和主量元素铌对测定的影响.确定了B 249.773 nm、Si 251.611 nm、W 334.940 nm、Mn 257.610 nm谱线为分析线，进行了仪器工作参数优化