【摘 要】
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在不同烧结条件下制备了钙钛矿氧化物La1-xSrxCoO3(0.1≤x≤0.5)体系.通过粉末X射线衍射分析准确地确定了其结构和晶格常数随Sr掺杂量的变化.在80~300K温度范围的直流电阻率测
【机 构】
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浙江大学物理系,浙江,杭州,310027
【出 处】
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2005年中国固体科学与新材料学术研讨会
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在不同烧结条件下制备了钙钛矿氧化物La1-xSrxCoO3(0.1≤x≤0.5)体系.通过粉末X射线衍射分析准确地确定了其结构和晶格常数随Sr掺杂量的变化.在80~300K温度范围的直流电阻率测量表明,材料的电性质在x=0.2和0.3之间展示了从半导体到金属的转变.x=0.2样品已接近绝缘体-金属(I-M)相变的边缘,与文献中的结果相近.我们讨论x=0.2和0.5情况下,La1-xSrxCoO3的晶格参数和电阻率等随烧结条件的变化.
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