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用正电子寿命谱和X射线衍射研究纳米晶体铜的热稳定性

来源 :第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：cet1979

【作 者】

：

周凯 李辉 庞锦标 王柱 

【机 构】

：

武汉大学物理科学与技术学院,武汉市,430072

【出 处】

：

第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会

【发表日期】

：

2010年9期

【关键词】

：

正电子寿命 纳米晶体铜 微观结构 X 射线衍射 

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