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传统的粉末衍射数据分析只使用衍射图谱中的部分数据，如衍射峰峰位、衍射峰强度、衍射峰半高宽等。而Rietveld分析的思路方法与此截然不同，它使用全部衍射图谱数据进行拟合分析。其要点是：根据理论计算衍射图谱，将计算图谱与实测图谱对比，调整计算过程中的结构参数以使计算图谱与实测图谱之间的差别最小，从而获得样品的晶体结构参数。