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镀银片在电镀车间放置１９天后腐蚀非常严重。该实验中用ＳＥＭ（扫描电子显微镜）观察了腐蚀膜形貌，用ＸＥＳ（Ｘ光能谱仪）分析了腐蚀膜的成分，四点法测量了静态电阻。ＸＥＳ检测到Ａｇ，Ｃｕ，Ｓ，Ｃｌ，Ｃ，Ｎ，Ｏ等元素。在某些部位有较高的Ｓｉ发现。由于样片在实验前进行了超声清洗以除去表面的尘土颗粒，这说明尘土颗粒在电镀前就沉积在基底上形成微孔，在恶劣环境条件下造成腐蚀。静态电阻测试结果表晨在有Ｓ和Ｃｕ发现的部位有极性效应存在。