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辐射脉冲宽度对界面RM不稳定性有非常大影响，短脉冲辐射，界面扰动相位转变一次，扰动RM不稳定性发展经历相位转变、线性增长、非线性增长。长脉冲辐射，界面扰动经过线性增长后，由于持续烧蚀触发RT不稳定性，使界面扰动相位再次发生改变，外部烧蚀层在内部材料中形成射流。通过调节辐射脉冲形状可以一定程度上控制扰动的发展。