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包裹量子点的SiO2在电致化学发光方法检测DNA化学损伤上的应用

来源 :中国化学会第十一届全国分析化学年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：xiangceng666

【作 者】

：

周洁 卫伟 刘松琴 

【机 构】

：

东南大学化学化工学院,南京 211189

【出 处】

：

中国化学会第十一届全国分析化学年会

【发表日期】

：

2012年8期

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