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遗传连锁图谱的构建是基因组研究中的重要环节,是基因定位与克隆,乃至基因组结构与功能研究的基础.近十几年来,分子标记技术得到了革命性的发展和广泛的应用,各种分子标记技术的相继出现,为构建高饱和的植物遗传连锁图谱和利用分子标记进行辅助选择育种奠定了基础.目前用于植物遗传作图的分子标记主要有RFLP、RAPD、AFLP、SCAR、SSR等,各种标记都有其优缺点,选用何种分子标记应依据具体情况而定.利用分子标记技术建立遗传连锁图谱并进行数量性状基因的QTL定位是近几年来分子标记技术应用研究的热点.在玉米育种中,株高和穗位高是影响玉米产量、抗倒伏性及生态适应性的重要农艺性状.近年来,为了增加玉米单位面积的种植密度和提高抗倒伏性,玉米株高遗传机理的研究得到一定程度的关注,对株高和抽穗期的遗传及QTL定位已有很多报道,已先后定位的基因或QTLs达70多个,同时一些重要的基因已被克隆.本研究利用玉米自交系组合R15×478的F2∶4群体构建SSR分子标记连锁图谱,在玉米SSRBinmap上均匀选取450对SSR引物检测R15、478亲本间的多态性,获得149对多态性引物,多态性比例为33.1﹪.根据149对引物扩增信息,利用Mapmaker/EXP3.0b构建遗传图谱.选用"Kosambi"函数将重组值转换成图距(cM),构建SSR标记遗传连锁图谱,图上共拟合146个SSR位点,另外3个引物未被拟合到连锁群上,利用group命令恰好将146个SSR位点划分为10个连锁群,覆盖玉米基因组的1666cM,标记间平均距离为11.4cM,其中有109对引物间的距离小于20cM,占75﹪,另有9对引物间的距离大于30cM,占6﹪.通过一年两点(重庆和雅安)的随机区组试验设计考察成株期株高和穗位高,利用复合区间作图法对两点数据平均值进行QTL定位分析,利用WindowsQTLCartographer定位软件,对雅安和重庆两点四重复考察数据的平均值,结合构建的SSR遗传连锁图谱的有关信息,采用permutationtest排列1000次(p=0.01),排列试验得到LOD阈值,其中对应株高的LOD阈值为4.5(LR=20.7),对应穗位高的LOD阈值为4.4(LR=20.3).QTL分析后共获得11个控制两性状的QTLs,其中检测到8个控制株高性状的QTLs,位于第2、3、4、5和8号染色体上,3个控制穗位高性状的QTLs,位于第4号染色体上.单个QTL所能解释的表型变异方差范围是株高6.67～11.59﹪,穗位高10.46～12.15﹪.在所检测到的两类性状的QTLs中,55﹪的QTL解释表型变异的值在10﹪以下,只有5个QTL大于10﹪,且位于第4染色体标记bnlg1137-bnlg2162之间.控制两性状的两个QTL能够解释较大的表型变异,其解释表型变异值分别为11.59﹪和12.15﹪,而令我们感兴趣的是这两个QTL不仅在同一个标记区间被检测到,而且二者是在同一个位置被检测出,且增加性状表型值的等位基因均来自于亲本R15,基因作用方式均为超显性.性状间相关是由于基因的多效性或控制不同性状的基因紧密连锁.本研究发现,株高和穗位高存在显著的正相关,其相关系数为0.854,达到极显著水平,对控制两性状QTL的定位结果发现控制株高和穗位高的QTL存在紧密连锁,其中qPH-4a与qEH-4a和qPH-4c与qEH-4c均在同一个位置被检测到.说明控制株高和穗位高的基因存在多效性或一因多效性,相关性状QTL定位有相似位点对株高、穗位高这两重要农艺性状的QTL定位,为分子佑标记辅助选择提供理论依据.