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该文提出了辉光放电原子发射光谱(dc-GD-AES) 直接分析非导体混合稀土氧化物粉末样品的新方法。研究了非导体在压片电极中的浓度、辉光放电操作参数、导电基体的选择等因素对放电稳定性，溅射和谱线强度的影响；考察了方法的精密度、基体干扰。方法应用于混合稀土试样的直接分析，所得结果与ICP-AES法测定的结果吻合的很好。