工艺测试面临的挑战

来源 :2008中国高端SMT学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lichao984
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本文介绍了AOI、AXI、ICT三种测试技术在当前工艺技术不断发展的情况下所面临的困难和挑战,同时也探讨了应对这种挑战的方法和措施。
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