集成电路的铜互连布线及其扩散阻挡层的研究进展

来源 :TFC'2005全国薄膜技术学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ixunsoo
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  本文综述了集成电路互连线的发展历史及研究现状.介绍了铜作为互连金属的优势及几种铜互连线的沉积工艺,分别讨论了它们的优缺点.总结了扩散阻挡层材料的研究状况,指出了目前扩散阻挡层高电阻率的缺点.
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