用Ps产额法测量正电子表面束缚能Fb和电子偶素激活能Ea

来源 :第四届全国正电子湮没谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：zzfivy

【作者】

：

郭学哲翁惠民韩荣典

【机构】

：

中国科技大学

【出处】

：

第四届全国正电子湮没谱学会议

【发表日期】

：

1990年期

【关键词】

：

产额测量正电子表面束缚能电子偶素

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