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采用普通CVD横式外延系统在(100)硅上高温外延生长单晶金刚石薄膜。对所得薄膜用金相显微镜,扫描电镜和拉曼光谱进行分析。初步结果表明,在(100)硅衬底上高温外延生长出与硅取向一致的金刚石核心,其大小为12μm以上。拉曼光谱分析表明,其核心为金刚石。电子衍射分析证实有Sic过渡层程存在。