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研究了使用理想转移矩阵来计算电路可测试性度量的方法。它与SCOAP的不同之处在于,以线路被置1和置0的概率作为衡量电路可控制性的指标,计算的结果更准确。提出了对原有的理想转移矩阵张量积计算的改进算法,它通过在计算张量积时使两个理想转移矩阵避免重复计算共同的输入源来提高可测试性度量计算的准确性。所提出的方法得到了实验的验证。