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Spectroscopic ellipsometry and X-ray absorption spectroscopy studies of non-polar A-face GaN films g

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ylm1982123

【作 者】

：

Yingkang Chen Shuyu Lin Guoqiang Li Lingyu Wan Zhe Chuan Feng 

【机 构】

：

Laboratory of optoelectronic materials & detection technology,Guangxi Key Laboratory for the Relativ

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年4期

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