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本文通过比较不同晶粒尺寸立方系样品的极图测试结果分析了样品晶粒尺寸对极图测试的影响。当样品晶粒细小时可以用常规方法进行织构测试;对较大晶粒样品当测试谱线失去了对称性时或晶粒尺寸更大时，无法采用常规方式测试。对于因晶粒较大而无法采用常规织构测试的薄带材样品，通过从样品侧面测得不完全极图并经过ODF转换计算的方法可以得到样品的织构，结果表明这种方法可以较好的解决大晶粒薄带材样品的织构测试问题。