原位ToF-SIMS在光电界面分析中的应用

来源 :第三届全国质谱分析学术报告会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Intoyou
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  飞行时间-二次离子质谱(ToF-SIMS)作为一种高灵敏度、高空间分辨率的表面分析技术,已广泛应用于材料科学、环境分析以及生命分析等领域。近年来,钙钛矿太阳能电池已进入快速发展期,对于其光电转换效率、稳定性以及材料-性能构效关系研究有迫切的需求[1]。然而,大部分分析方法并非在原位实时条件下对光电界面进行分析,难以揭示光电界面的动态变化。
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