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本文通过对CAF生长机理以及失效案例的分析,介绍了由于CAF生长给电子产品可靠性带来的潜在风险,并且提出了控制CAF生长,提高电子产品的质量与可靠性的措施。
印制线路板CAF失效分析
【摘 要】
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本文通过对CAF生长机理以及失效案例的分析,介绍了由于CAF生长给电子产品可靠性带来的潜在风险,并且提出了控制CAF生长,提高电子产品的质量与可靠性的措施。
【机 构】
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信息产业部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州 510610
【出 处】
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中国电子学会第十四届青年学术年会
【发表日期】
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2008年期
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