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采用磁控溅射方法在316L不锈钢基体上沉积铝薄膜,分别采用扫描电子显微镜和X射线衍射仪对不同负偏压下沉积的铝膜进行表面形貌及相结构研究。实验结果表明:当基体负偏压低于120V时,Al膜在(111)面择优生长趋势随偏压的升高而减弱;当偏压超过120V并继续升高时,Al膜在(111)面择优生长趋势又得到增强。薄膜晶粒尺寸随基体负偏压的升高,呈现先减小后增加的趋势。在120V偏压下制备出晶粒细小,组织致密的铝膜。