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本研究采用传统电子陶瓷制备方法，以CeO2对Pb0.99Ca0.006Nb1.98Ti0.01O5.986(PCNT)压电陶瓷进行掺杂，制备出PCNT-x wt％CeO2系高居里温度压电陶瓷。XRD分析表明，x在0～0.4wt％范围内均能形成斜方钨青铜型固溶体，利用XRD数据计算了晶体的晶格常数随x的变化，分析了晶格常数变化对材料压电性能的影响。陶瓷材料的居里温度测试结果表明该体系具有高的居里温度(Tc＞550℃)。测试了陶瓷样品的压电、介电性能，发现当CeO2的掺杂量为0.3 wt ％时样品的压电常数d33达到最大值，为75pC/N，机电耦合系数kl=0.33，材料的介电常数ε33T/ε0=248，介质损耗tanδ=0.01，居里温度Tc为550℃，该组成具有优异的压电性能，适合于高温环境下的使用。