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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。通过实验可观察到，在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性，该文提出一种新的成像方法，可以提高灵敏度，非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体，并使测量时间大大减少。
X射线数字分层成像的非线性方法研究
【摘 要】
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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。通过实验可观察到，在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性，该文提
【机 构】
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清华大学工程物理系(北京)
【出 处】
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第十届全国核电子学与核探测技术学术年会
【发表日期】
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2000年期
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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分析情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。该文提出一种新的成像方法，在现有微焦点X辐射成像系统的基础上，采用