【摘 要】
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作者通过脉冲激光淀积的方法在Y-ZrO衬底上原位生长了Pb(ZrTiO/YBaCuO双层薄膜，在此样品上利用电子探针分析了成份，X衍射谱证明 了两层薄膜的单取向生长。并对Pb(ZrTiO薄膜的铁
【机 构】
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南京大学电子系,微结构科学技术高等研究中心
【出 处】
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第五届全国超导薄膜和超导电子器件学术会议
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作者通过脉冲激光淀积的方法在Y-ZrO<,2>衬底上原位生长了Pb(Zr<,0.6>Ti<,0.4>O<,3>/YBa<,2>Cu<,3>O<,7-x>双层薄膜，在此样品上利用电子探针分析了成份，X衍射谱证明 了两层薄膜的单取向生长。并对Pb(Zr<,0.6>Ti<,0.4>O<,3>薄膜的铁电性质进行了测试，得到了典型的电滞回线。
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