北师大GIC4117串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展

• 作 者: 王广甫 鲁永芳 朱光华
• 机 构: 北京师范大学分析测试中心,北京,100875北京师范大学低能核物理研究所,北京,100875
• 出 处: 2006全国荷电粒子源、粒子束学术会议
• 发表日期: 2006年10期
• 关键词: 串列加速器 质子 荧光分析 质子弹性散射分析 非卢瑟福背散射 气溶胶 轻元素含量

气溶胶样品中Z＞12元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一.为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子前角弹性散射分析(PESA)和非卢瑟福背散射(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量.