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近年来，扫描探针声显微镜(SPAM)作为一种新的成像技术已经在很多应用领域被关注。SPAM的试样振动模式是一种将声学激励系统集成于扫描探针显微镜(SPM)的试样下面的成像技术。本文将建立探针-试样系统的集中参量模型，通过Multisim软件对该模型的等效电路进行频率特征曲线的仿真计算。频率特征曲线的获得将有助于指导及分析实验，从而提高SPAM的成像效果。