IGBT特性的辐照效应

来源 :中国电工技术学会电力电子第六次全国学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:albeewang
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该文简述了中子辐照对IGBT特性的影响,给出了器件在中子辐射注量高达10〈’13〉n/cm〈’2〉时的实验结果。实验发现,随着中子注量的增加,开关时间缩短,阈值电压漂移。对于所研究的注量范围,所观察的效应是由于IGBT少子寿命减少造成的,而不是由于有效掺杂浓度变化所致。
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