无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉

来源 :2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012) | 被引量 : 0次 | 上传用户：lichao0714900

【摘要】

：

本文采用无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的微量滑石粉,将安全套表面润滑剂均匀涂于无衍射单晶硅基板表面,在X射线衍射仪上测定.测定条件为：采用功率为2 kw的封闭式Cu靶X光管,管电压为40 kV,电流40 mA,扫描范围为2θ=5～60°,扫描方式为步进扫描,扫描间隔为0.02°,停留时间为1 s.在上述条件下,测定了三个生产厂家的样品,实现了对安全套表面润滑剂中的微量滑石

【作者】

：

ZHAO Jing-hong 赵景红 GUO Ya-lin 郭雅琳 SONG Xiao-ping 宋小平 ZHANG Ning 张宁

【机构】

：

Liaoning Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Dalian 116001, China

【出处】

：

2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)

【发表日期】

：

2012年7期

【关键词】

：

安全套质量检测滑石粉无衍射单晶硅基板-X射线衍射法

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