论文部分内容阅读
测量了PIPS半导体探测器的本底谱,得出242Cmα粒子可测量的计数率下限为6.3X 10-6cps.用241Amα源开展了实验测量工作,研究了不同241Am能峰强度对242 Cmα粒子测量的影响,推算了241Am能峰不同计数率情况下可测量的241Am与242Cm最大强度差.在一定的241Am能峰计数率情况下,采用组合测量方法获取了242Cmα谱,谱中241Am与242Cm强度差与理论推算结果基本一致.