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采用直流电位降法(DCPD)研究了TC4 钛合金显微组织对疲劳裂纹扩展速率的影响。结果 表明,DCPD法测得的da/dN-ΔK 曲线与裂纹张开位移法(COD)基本吻合。片层组织的TC4 钛合金具有较低的疲劳裂纹扩展速率和较高的门槛值,疲劳断口起伏较大,而双态组织的疲劳裂纹扩展速率略低于等轴组织,双态与等轴组织的疲劳断口起伏较小。