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现有的电路质量评价的规范和标准大多数是在20世纪90年代到21世纪初制定的，面对当前工艺的处理器，如果只沿用原有的标准，其潜在的一些质量问题无法暴露，本文主要对当前生产工艺下处理器的失效机理进行了分析，对现有的集成电路鉴定检验流程及方法进行了简单介绍分析，并根据当前处理器的现状提出几点完善鉴定检验方法的建议予以探讨。