基于边界扫描的电路板测试性优化设计

• 作 者: 刘冠军 温熙森 黎琼炜
• 机 构: 国防科技大学机电工程与自动化学院可靠性试验研究室(湖南长沙)
• 出 处: 第九届全国容错计算学术大会
• 发表日期: 2001年期
• 关键词: 边界扫描技术 电路板 测试性 设计技术 优化算法 完全问题 贪婪策略 设计方案 求解问题 仿真实验 证明 器件 程度

目前,边界扫描技术已成为电路板及器件的主要测试性设计技术之一.基于边界扫描的电路板测试性设计中,近切需要解决“测试性改善程度一定时,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题.本文首先深入分析了该问题,证明其是—NP-完全问题,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.