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采用固相反应法制备了Ca1-xLaxCu3Ti4O12 (x=0-0.05)陶瓷系列样品,利用X射线衍射、扫描电子显微镜和正电子湮没技术等技术手段,对系列样品的晶体结构、微观形貌、电子密度、缺陷浓度等进行测试和表征.结果 表明,在整个掺杂范围内体系未发生结构相变；当掺杂量x≥0.02时,样品的晶粒尺寸明显发生变化.正电子寿命谱结果表明,La掺杂改变样品内部局域电子密度,影响样品的平均寿命.电性能测试发现,掺杂量x≥0.02时,样品的非线性特性受到抑制.综合研究表明,CCTO体系的非线性特性不仅受到体系微观晶粒尺寸的影响,同时也受到缺陷的化学环境及其局域电子密度的影响.