低温AlN插入层对Si基AlGaN/GaN异质结构材料特性的影响研究

来源 :第13届全国MOCVD学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wdxswdxs
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
GaN材料体系以其禁带宽度大、耐高压、耐高温等优越性能非常适合制作微波放大及功率开关器件,AlGaN/GaN异质结构是其中的代表.在生长GaN外延层的几种可能衬底材料(蓝宝石、SiC、Si和GaN)中,Si衬底有明显的低价格优势,同时导热性较好,而且其晶片尺寸大,从而有效降低器件制作成本.
其他文献
Ⅲ族氮化物发光二极管(LED)固体照明器件目前正在向大功率和长波段推进.由于InGaN/GaN量子阱结构中大晶格失配和强极化效应,导致LED在长波段发光效率大幅下降,被称为"绿光缺失"问题.在本报告中,我们发明的紫外软压印技术采用经过特殊处理的软模板,使转移图形具有更佳的形状和更少的缺陷,特别适合在InGaN/GaN量子阱这类具有较高缺陷密度的材料上大面积制备纳米结构.
会议
本文较系统地报告InGaN多量子阱LED外量子效率(EQE)和墙插效率(WPE)的交叉现象.对高质量的InGaN多量子阱LED,在小电流密度注入下,其墙插效率大于外量子效率,说明LED处于吸热制冷状态,辐射复合载流子从晶格中吸收一定的热能,复合后发出能量高于其本身电势能的光子,且该吸热制冷效率随发光波长变长而减弱.随着电流密度增大,外量子效率逐渐超过墙插效率.外量子效率-墙插效率交叉点的电流密度和
会议
大功率半导体激光器在泵浦、材料加工、医疗及国防等领域具有广阔的应用前景.但传统半导体激光器的垂直光束发散角半高全宽(FWHM)通常在30°-60°之间,需要采用高数值孔径的非球面透镜进行准直,成本很高.另外,半导体激光器的水平发散角通常在10°左右,输出光束为非常不对称的椭圆分布,不利于光学或光纤耦合,需要进行复杂的光束整形,限制了其应用发展.
会议
应用电流-电压(I-V),电容-电压(C-V),原子力显微镜(AFM),X-射线光电子能谱(XPS)和深能级瞬态谱(DLTS)技术,系统研究具有较宽Al组分(x=0,0.14,0.24,0.33和0.43)AlxGa1-xN薄膜中的表面态和局域态缺陷.I-V,C-V,AFM和XPS研究表明,随着Al组分增加,AlxGa1-xN样品表面粗糙度和Al2O3含量增大,导致样品表面态密度呈现出明显有序的增
会议
相对于可见波段的InGaN/GaN量子阱,发光波长在紫外波段尤其是280nm附近的AlGaN量子阱还有很多严重的问题亟待解决.对于高Al组分AlGaN而言,晶体质量是影响发光特性的一个重要原因,高Al组分AlGaN有更高的位错密度,量子阱界面平整性更难保证,这会降低量子阱的辐射复合效率;另外,压电极化和自发极化的影响使得有源区有非常强的电场,阱中的电场会引起强的量子限制斯塔克效应(QCSE),这使
会议
本文成功设计并生长出了InAlN/GaN/AlGaN/GaN双异质结构材料,表现出优异的高温载流子输运特性,573 K时电子迁移率高达426 cm2/(V·s),明显高于常规InAlN/GaN单异质结构(573K迁移率315 cm2/(V·s))。并通过AFM、XRD、CV测试、Hall效应测试等手段对InAlN/GaN双异质结构和单异质结构的材料和电学特性进行了对比研究。其中,变温霍尔效应测试表
As a potential su bstitute for the general lighting, the efficiency o f Ga N b ased LED still needs to b improved.One basic way is to improve the crystal quality of GaN fill.In previous studies, predo
会议
P型掺杂一直是Ⅲ氮化物系列光电子器件关键技术,基于AlInN材料的光电子器件也是如此。目前虽已有几个课题组开展了相关的研究。但获得P型空穴浓度无法满足制备紫外,深紫外光电子器件的条件。而近来提出一种新的方法:极化掺杂方法,它可以在免掺杂剂前提下获得高的空穴浓度。这种方法从根本上解决了AlInN材料的P型掺杂困难。长期以来,极化掺杂通常用于高电子迁移率的晶体管中。尽管极化掺杂具有极大的潜力,能够实现
GaN同质外延的再生长界面处会存在C、O、Si等杂质,从而在缓冲层中引入寄生沟道,致使缓冲层漏电.为了彻底解决这一问题,本文在GaN基板上直接外延AlGaN势垒层,这样一来再生长界面将作为2DEG沟道层,无论表面杂质去除干净与否,都不会引入寄生沟道,同时采用原位表面处理结合补偿生长的方法来抑制2DEG迁移率和面密度的下降.
会议
AlGaN/GaN HEMT在高频大功率器件中具有广泛的应用前景.为了提高HEMT器件的工作频率,栅长需要不断减小,随着栅长的减小,器件短沟道效应严重,减小势垒层厚度能有效抑制短沟道效应,在减小势垒层厚度的同时,为了维持2DEG的浓度不变,必须提高势垒层的Al组分,然而,随着势垒层Al组分的提高,势垒层结晶质量下降,表面形貌恶化,器件电学特性变差.
会议