密度泛函理论及在正电子中的应用

来源 :第八届全国正电子谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xingzhe1689
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本文概述了密度泛函理论的基础内容,给出了在正电子材料研究中,用于材料中正电子体寿命计算的基于密度泛函的两组元湮灭理论,并且概述了其在缺陷研究中的应用.
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